科学研究

微区测试系统

微区测试系统

型号:ARM角分辨光谱仪和AR-Meta超表面光谱仪

品牌:上海复享科技有限责任公司

简介:微区测试是表征以超表面为代表的微纳光子材料光学性质的主要手段。该系统包括ARM角分辨光谱仪和AR-Meta超表面光谱仪两部分,ARM角分辨光谱仪能够测量400~1000nm、-60°到60°的角向光谱,角度分辨率可以达到0.5°,可以快速实现包括透射/反射/辐射(荧光)等9种测量模式。而AR-Meta超表面光谱仪具有独立的反射和透射两套光路,能够轻松实现反射情况下0~20mm纵深,透射情况下0~2mm纵深的光场扫描,支持380nm~1050nm(可见)和900~100nm(近红外)两个谱段。