科学研究

一种光学薄膜0-70°入射的宽光谱透射率测量方法及装置

发布时间:2015-04-15 发布者: 来源: 浏览:

专利类型:发明授权
申请/专利号: CN201110288811.2
发明/设计人:刘永利; 张锦龙; 程鑫彬; 马彬; 焦宏飞; 丁涛; 韩金; 张艳云; 王玲; 王占山