内部数据库
联系我们
EN
首页
研究所概况
简介
文化理念
组织架构
现任领导
历任领导
科研队伍
科研队伍
院士
国家级高层次人才
教授/研究员
副教授/副研究员
助理教授
博士后
行政/技术人员
访问学者
科学研究
科研方向
科研平台
产学研合作
科研成果
国际合作
学生培养
研究生
本科生
毕业生
学术风采
生活剪影
学生招募
党建与创新文化
组织建设
学习天地
党建活动
党员事迹
招聘信息
科研人员
行政 技术人员
学生招募
内部数据库
联系我们
EN
首页
研究所概况
简介
文化理念
组织架构
现任领导
历任领导
科研队伍
科研队伍
院士
国家级高层次人才
教授/研究员
副教授/副研究员
助理教授
博士后
行政/技术人员
访问学者
科学研究
科研方向
科研平台
产学研合作
科研成果
国际合作
学生培养
研究生
本科生
毕业生
学术风采
生活剪影
学生招募
党建与创新文化
组织建设
学习天地
党建活动
党员事迹
招聘信息
科研人员
行政 技术人员
学生招募
通知公告
新闻动态
学术活动
科学研究
首页
/
科学研究
/
科研方向
/
强激光薄膜与应用
/
奖励与专利
/
正文
科学研究
科学研究概况
X射线器件与系统
新闻动态
科研方向
教师团队
学生团队
论文与专著
奖励与专利
科研条件
强激光薄膜与应用
新闻动态
科研方向
教师团队
学生团队
论文与专著
奖励与专利
科研条件
光学纳米计量与测试
新闻动态
科研方向
教师团队
学生团队
论文与专著
奖励与专利
科研条件
微纳光学与智能感知
新闻动态
科研方向
教师团队
学生团队
论文与专著
奖励与专利
科研条件
一种面向激光薄膜内部缺陷的溯源性损伤阈值测量方法
发布时间:2017-01-25
发布者:
来源:
浏览:
专利类型:发明公开
申请/专利号: CN201410050368.9
发明/设计人:王占山;马彬 程鑫彬 马宏平 陆梦蕾 焦宏飞
上一条:
一种基于人工缺陷的激光薄膜定量化研究方法
下一条:
一种基于多次迭代刻蚀的透射光学元件损伤阈值提升方法
返回列表