一种光学薄膜0-70°入射的宽光谱透射率测量方法及装置

发布时间：2015-04-15 发布者：来源：浏览：

专利类型：发明授权
申请/专利号： CN201110288811.2
发明/设计人：刘永利; 张锦龙; 程鑫彬; 马彬; 焦宏飞; 丁涛; 韩金; 张艳云; 王玲; 王占山