内部数据库
联系我们
EN
首页
研究所概况
简介
文化理念
组织架构
现任领导
历任领导
科研队伍
科研队伍
院士
国家级高层次人才
教授/研究员
副教授/副研究员
助理教授
博士后
行政/技术人员
访问学者
科学研究
科研方向
科研平台
产学研合作
科研成果
国际合作
学生培养
研究生
本科生
毕业生
学术风采
生活剪影
学生招募
党建与创新文化
组织建设
学习天地
党建活动
党员事迹
招聘信息
科研人员
行政 技术人员
学生招募
内部数据库
联系我们
EN
首页
研究所概况
简介
文化理念
组织架构
现任领导
历任领导
科研队伍
科研队伍
院士
国家级高层次人才
教授/研究员
副教授/副研究员
助理教授
博士后
行政/技术人员
访问学者
科学研究
科研方向
科研平台
产学研合作
科研成果
国际合作
学生培养
研究生
本科生
毕业生
学术风采
生活剪影
学生招募
党建与创新文化
组织建设
学习天地
党建活动
党员事迹
招聘信息
科研人员
行政 技术人员
学生招募
通知公告
新闻动态
学术活动
科学研究
首页
/
科学研究
/
科研成果
/
标准与专利
/
知识产权列表
/
正文
科学研究
科研方向
科学研究概况
X射线器件与系统
强激光薄膜与应用
光学纳米计量与测试
微纳光学与智能感知
科研平台
平台简介
硬件设备
产学研合作
科研成果
奖励与荣誉
论文与专著
标准与专利
国际合作
新闻动态
科研成果
一个薄膜残余应力分离和测量装置
发布时间：2014-04-16
发布者：
来源：
浏览：
专利类型：发明授权
申请/专利号： ZL201110134521.2
发明/设计人：叶晓雯 丁涛 程鑫彬 马彬 何文彦 韩金 张艳云 王占山
上一条：
一种激光薄膜的清洗方法
下一条：
一种提高高反射薄膜激光损伤阈值的镀制方法
返回列表
