科学研究

一种光学基板亚表面中纳米吸收中心深度分布的检测方法

发布时间:2015-01-14 发布者: 来源: 浏览:

专利类型:发明授权
申请/专利号: CN201310090224.1
发明/设计人:程鑫彬; 鲁江涛; 宋智; 鲍刚华; 焦宏飞; 王占山