科学研究

一种面向激光薄膜内部缺陷的溯源性损伤阈值测量方法

发布时间:2017-01-25 发布者: 来源: 浏览:

专利类型:发明公开
申请/专利号: CN201410050368.9
发明/设计人:王占山;马彬 程鑫彬 马宏平 陆梦蕾 焦宏飞