知识产权列表-同济大学精密光学工程技术研究所

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核心知识产权知识产权列表

9、一种超高精度多层膜厚度漂移误差标定方法
专利类型：发明专利
申请/专利号：CN202010945043.2
发明/设计人：王占山黄秋实齐润泽张众
10、基于线型磁控溅射靶枪的大尺寸平面基底镀膜方法及装置
专利类型：发明专利
申请/专利号：CN202010913247.8
发明/设计人：王占山齐润泽王长青
11、一种金属/介质超宽带吸收薄膜及其制备方法
专利类型：发明授权
申请/专利号： CN201810466339.9
发明/设计人：焦宏飞钮信尚张学敏马彬张锦龙程鑫彬王占山
12、一种二维原子光刻栅格结构制备方法
专利类型：发明专利
申请/专利号：CN201810548515.3
发明/设计人：程鑫彬邓晓李同保刘杰朱立
13、一种用于实现分步沉积型二维原子光刻的装置
专利类型：发明专利
申请/专利号：CN201810548512.X
发明/设计人：程鑫彬邓晓李同保刘杰朱立
14、一种能谱仪探测深度的标定方法
专利类型：发明专利
申请/专利号：CN 109655475 B
发明/设计人：马彬韩佳岐王可程鑫彬王占山
15、基于原位探测的纳米尺度初始激光损伤检测方法及系统
专利类型：发明专利
申请/专利号：CN 107015028 B
发明/设计人：马彬张莉王可程鑫彬王占山
16、一种反射式超表面能流分布调控组件及其构建方法
专利类型：发明专利
申请/专利号：202110072583.9
发明人/设计人：程鑫彬何涛王占山

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