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    • 一种激光薄膜元件用光学基板的清洗方法

      专利类型:发明授权
      申请/专利号: CN201210569708.X
      发明/设计人:丁涛 谢雨江 张锦龙 程鑫彬 焦宏飞 沈正祥 马彬 王占山
    • 一种光学薄膜0-70°入射的宽光谱透射率测量方法及装置

      专利类型:发明授权
      申请/专利号: CN201110288811.2
      发明/设计人:刘永利 张锦龙 程鑫彬 马彬 焦宏飞 丁涛 韩金 张艳云 王玲 王占山
    • 一种真空环境下高效率多功能的激光损伤测试装置和方法

      专利类型:发明授权
      申请/专利号: CN201310102099.1
      发明/设计人:马彬; 马宏平; 程鑫彬; 鲍刚华; 宋智; 焦宏飞; 王占山
    • 一种损伤阈值测量中微小尺度损伤点的识别方法及装置

      专利类型:发明授权
      申请/专利号: CN201210326292.9
      发明/设计人:马彬; 张艳云; 马宏平; 程鑫彬; 焦宏飞; 王占山
    • 基于高精度复位技术的损伤阈值测量方法及测量装置

      专利类型:发明授权
      申请/专利号: CN201210326252.4
      发明/设计人:马彬; 张艳云; 马宏平; 程鑫彬; 焦宏飞; 王占山
    • 一种光学基板亚表面中纳米吸收中心深度分布的检测方法

      专利类型:发明授权
      申请/专利号: CN201310090224.1
      发明/设计人:程鑫彬; 鲁江涛; 宋智; 鲍刚华; 焦宏飞; 王占山
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